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深圳天瑞ROHS检测仪器有限公司 
| 联系人：刘生 先生 (市场经理) |
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| 电 话：1591-9790270 |
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| 手 机：15919790270 |
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| 天瑞XRF检测仪器-XRF测试仪 |
天瑞XRF检测仪器XRF测试仪
XRF检测仪基本配置
※.特别开发的测量软件，操作界面十分友好
※.高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击
※.样品腔尺寸：605mm*395*70mm
※.内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
※.精准的移动平台，更精确方便地调节样品位置
※.测量 RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用
※.电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
※.独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品
※.信噪比增强器
※.自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
应用范围
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析
针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
天瑞XRF检测仪器技术指标
※. 检测限*高达 1ppm
※. 测量元素:从硫至铀等 75 种元素
※. 元素含量分析范围:1ppm-99.99%
※. 测量时间: 60-300s
※. 一次可同时分析 24 个元素析
※. 能量分辨率为： 160±5eV
※. 高压：5-50kV
※. 管流：50-1000uA
※. 多种准直器自动自由切换
※. 电制冷硅针半导体探测器
※. 自动选择滤光片
※. 加强的金属元素感度分析器
※. 三重安全保护模式
※. 多变量非线性回归程序
※. 任意多个可选择的分析识别模型
※. 温度适应范围： 15-30℃
※. 电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
※. 重量：60kg
※. 相互独立的基体效应校正模型 |
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